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Titel |
TI |
[DE] Verfahren, Vorrichtung und Endoskop sowieAufsatz
[EN] Method for detecting defects on metallic light reflective surface of workpiece, involves receiving images from workpiece surface, where polarization of light emitted from light source and polarization of camera pole filter are equal |
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Anmelder/Inhaber |
PA |
Hahlweg, Cornelius, 22147, Hamburg, DE
;
Rothe, Hendrik, 22885, Barsbüttel, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Hahlweg, Cornelius, 22147, Hamburg, DE
;
Rothe, Hendrik, 22885, Barsbüttel, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.05.2012 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102012010190 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
24.01.2013 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102011107863
20110718
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 21/94
(2012.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 21/21
G01N 21/8422
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 21/94
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft zunächst ein Verfahren zur Detektion von Fehlstellen 32 auf einer mit einem metallischen Material gebildeten, lichtreflektierenden und rauen Oberfläche 30 eines Werkstückes 28 mit mindestens einer polarisierten Lichtquelle 12, 42 zur Beleuchtung der Oberfläche 30 des Werkstückes 28 und eines Hintergrundes 34 und mit mindestens einer Kamera 14 mit einem vorgeschalteten Kamerapolfilter 16 zur Erfassung des von der Oberfläche 30 reflektierten Lichtes mit den folgenden Schritten: a) Aufnehmen eines ersten Bildes 50 von der Oberfläche 30 des Werkstückes 28 mittels der Kamera 14, wobei eine Polarisation des von der Lichtquelle 12 emittierten Lichtes und eine Polarisation des Kamerapolfilters 16 im Wesentlichen gleich sind, b) Aufnehmen eines zweiten Bildes 52 von der Oberfläche 30 des Werkstückes 28 mittels der Kamera 14, wobei die Polarisation des von der Lichtquelle 12 emittierten Lichtes und die Polarisation des Kamerapolfilters 16 im Wesentlichen senkrecht zueinander verlaufen, und c) Auswerten der beiden Bilder 50, 52 mittels einer Differenzbildmessung. Daneben betrifft die Erfindung eine Vorrichtung 40 zur Durchführung des Verfahrens, ein Endoskop 70, 110 sowie einen Aufsatz 90 zum Nachrüsten eines herkömmlichen Endoskops.
[EN] The method involves receiving images from surface (30) of workpiece (28) by a camera (14). The light reflected from surface of workpiece is detected by camera pole filter (16) mounted on camera. The polarization of light emitted from light source (12) and a polarization of the camera pole filter are equal. The surface and background (34) of workpiece are illuminated by polarized light source. The images are evaluated by a difference image measurement. Independent claims are included for the following: (1) an apparatus for detecting defects on metallic light reflective and rough surface of workpiece; (2) an endoscope; and (3) a cap for attachment to endoscope. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000019534716A1
DE102005062439B3
DE102010046438A1
EP000003088874A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE000004105192C2
DE000020315895U1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 21/94
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