Bibliographic data

Document DE102012005815A1 (Pages: 7)

Bibliographic data Document DE102012005815A1 (Pages: 7)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik
71/73 Applicant/owner PA Technische Universität Chemnitz, 09111, Chemnitz, DE
72 Inventor IN Bohlländer, Marco, 09120, Chemnitz, DE ; Herold, Christian, 09126, Chemnitz, DE ; Hiller, Sebastian, 92280, Kastl, DE
22/96 Application date AD Mar 17, 2012
21 Application number AN 102012005815
Country of application AC DE
Publication date PUB Sep 19, 2013
33
31
32		 Priority data PRC
PRN
PRD

51 IPC main class ICM G01R 31/26 (2012.01)
51 IPC secondary class ICS
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G01R 31/2603
G01R 31/2619
MCD main class MCM G01R 31/26 (2006.01)
MCD secondary class MCS
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtungen zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik. Diese zeichnen sich insbesondere dadurch aus, dass die Temperaturkalibrierkennlinie einfach und ökonomisch günstig zu ermitteln ist. Dazu werden/sind die Leistungsanschlüsse des Halbleiterbauelements – mit einer ersten Stromquelle für einen Laststrom, – mit einer zweiten Stromquelle für einen Messstrom, und – mit einem Voltmeter zur Messung der über entweder die Leistungsanschlüsse oder mit den Leistungsanschlüssen verbundenen Hilfsanschlüssen abfallenden Spannung zusammengeschaltet. Weiterhin wird das mit einem Datenverarbeitungssystem verbundene Halbleiterbauelement – in Intervallen bei zugeschalteter erster Stromquelle über dessen Verlustleistung erwärmt und – die bei abgeschalteter erster Stromquelle und zugeschalteter zweiter Stromquelle über die Leistungs- oder Hilfsanschlüsse abfallende Spannung zwischen den Intervallen nach einer durch die thermische Hauptzeitkonstante des Halbleiterbauelements bestimmten Zeitdauer als die Temperatur repräsentierende Werte einschließlich der dazugehörigen Temperaturen gemessen. Die Werte bilden nach einer Näherung die Kalibrierkennlinie des Halbleiterbauelements.
56 Cited documents identified in the search CT DE000003037192A1
DE000003832273A1
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents No results
Sequence listings
Search file IPC ICP G01N 27/18
G01R 31/26