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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Technische Universität Chemnitz, 09111, Chemnitz, DE
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Erfinder |
IN |
Bohlländer, Marco, 09120, Chemnitz, DE
;
Herold, Christian, 09126, Chemnitz, DE
;
Hiller, Sebastian, 92280, Kastl, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
17.03.2012 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102012005815 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
19.09.2013 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01R 31/26
(2012.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01R 31/2603
G01R 31/2619
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01R 31/26
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtungen zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik. Diese zeichnen sich insbesondere dadurch aus, dass die Temperaturkalibrierkennlinie einfach und ökonomisch günstig zu ermitteln ist. Dazu werden/sind die Leistungsanschlüsse des Halbleiterbauelements – mit einer ersten Stromquelle für einen Laststrom, – mit einer zweiten Stromquelle für einen Messstrom, und – mit einem Voltmeter zur Messung der über entweder die Leistungsanschlüsse oder mit den Leistungsanschlüssen verbundenen Hilfsanschlüssen abfallenden Spannung zusammengeschaltet. Weiterhin wird das mit einem Datenverarbeitungssystem verbundene Halbleiterbauelement – in Intervallen bei zugeschalteter erster Stromquelle über dessen Verlustleistung erwärmt und – die bei abgeschalteter erster Stromquelle und zugeschalteter zweiter Stromquelle über die Leistungs- oder Hilfsanschlüsse abfallende Spannung zwischen den Intervallen nach einer durch die thermische Hauptzeitkonstante des Halbleiterbauelements bestimmten Zeitdauer als die Temperatur repräsentierende Werte einschließlich der dazugehörigen Temperaturen gemessen. Die Werte bilden nach einer Näherung die Kalibrierkennlinie des Halbleiterbauelements. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000003037192A1
DE000003832273A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 27/18
G01R 31/26
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