Bibliographic data

Document DE102011109503B4 (Pages: 9)

Bibliographic data Document DE102011109503B4 (Pages: 9)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Qualitätsabhängige Modellierung von Radar-Rückstreuung
71/73 Applicant/owner PA Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147, Köln, DE
72 Inventor IN Rizzoli, Paola, 80686, München, DE
22/96 Application date AD Aug 5, 2011
21 Application number AN 102011109503
Country of application AC DE
Publication date PUB Jan 24, 2019
33
31
32		 Priority data PRC
PRN
PRD		 EP
11172899
20110706
51 IPC main class ICM G01S 7/41 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS G01S 13/89 (2006.01)
G01S 13/90 (2006.01)
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G01S 13/90
G01S 7/41
MCD main class MCM G01S 7/41 (2006.01)
MCD secondary class MCS G01S 13/89 (2006.01)
G01S 13/90 (2006.01)
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Verfahren zur Bestimmung eines einfallswinkelabhängigen Radar-Rückstreuungs-Modells, wobei das Verfahren durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist:- Bereitstellen gemessener Radardaten einer Oberfläche, die Paare aus einem Rückstreuungsintensitätswert und dem zugehörigen lokalen Einfallswinkel aufweisen,- Bereitstellen von Oberflächeneigenschaftsklassen für die Rückstreuungsintensitätswerte,- Unterscheiden der Rückstreuungsintensitätswerte in Abhängigkeit von den Oberflächeneigenschaftsklassen,- für mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen, zusätzliches Unterscheiden der Rückstreuungsintensitätswerte in Abhängigkeit von vorbestimmten Lokal-Einfallswinkel-Intervallen,- für die mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen, Quantifizieren einer Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall,- für die mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen und für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall, Ermitteln des mit größter Wahrscheinlichkeit zugehörigen Rückstreuungsintensitätswerts,- Bereitstellen eines einfallswinkelabhängigen parametrisierten Modells der Rückstreuungsintensitätswerte, wobei das Modell durch eine Anzahl von Parametern definiert ist, und- Schätzen derartiger Modellparameter durch Anwenden eines nichtlinearen gewichteten Fitting-Prozesses an den wahrscheinlichsten Rückstreuungsintensitätswerten, wobei die in dem Fitting-Prozess verwendeten Wichtungen unter Berücksichtigung der Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte bestimmt werden,- wobei das Quantifizieren der Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte durchgeführt wird auf der Basis (i) der Anzahl gemessener Radardaten, die berücksichtigt werden, wobei die Zuverlässigkeit direkt proportional zu der Anzahl der berücksichtigten gemessenen Radardaten ist, und (ii) eines Schätzfehlers zwischen einerseits der Verteilung der Rückstreuungsintensitätswerte für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall innerhalb der mindestens einen der Oberflächeneigenschaftsklassen und andererseits einer Funktion der theoretischen Wahrscheinlichkeitsdichte, mit der an der Verteilung der Rückstreuungsintensitätswerte ein Fitting-Prozess vorgenommen wird, wobei die Zuverlässigkeit umgekehrt proportional zu dem Betrag des Schätzfehlers ist.
56 Cited documents identified in the search CT
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP SABEL, D. u.a.: Sigma Nought Statistics over Land Activity - Final report (2009) (ESA contract No. 22122/08/NL/JA), Institute of Photogrammetry and Remote Sensing, Technische Universität Wien, Österreich p 0;
ULABY, F.T.; DOBSON, M.C.: Handbook of Radar Scattering Statistics for Terrain, Artech House, 1989, S. 88-97 p 0
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
Sequence listings
Search file IPC ICP G01S 13/89
G01S 13/90
G01S 7/41