Bibliografische Daten

Dokument DE102011109503B4 (Seiten: 9)

Bibliografische Daten Dokument DE102011109503B4 (Seiten: 9)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Qualitätsabhängige Modellierung von Radar-Rückstreuung
71/73 Anmelder/Inhaber PA Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147, Köln, DE
72 Erfinder IN Rizzoli, Paola, 80686, München, DE
22/96 Anmeldedatum AD 05.08.2011
21 Anmeldenummer AN 102011109503
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 24.01.2019
33
31
32		 Priorität PRC
PRN
PRD		 EP
11172899
20110706
51 IPC-Hauptklasse ICM G01S 7/41 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01S 13/89 (2006.01)
G01S 13/90 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01S 13/90
G01S 7/41
MCD-Hauptklasse MCM G01S 7/41 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01S 13/89 (2006.01)
G01S 13/90 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Verfahren zur Bestimmung eines einfallswinkelabhängigen Radar-Rückstreuungs-Modells, wobei das Verfahren durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist:- Bereitstellen gemessener Radardaten einer Oberfläche, die Paare aus einem Rückstreuungsintensitätswert und dem zugehörigen lokalen Einfallswinkel aufweisen,- Bereitstellen von Oberflächeneigenschaftsklassen für die Rückstreuungsintensitätswerte,- Unterscheiden der Rückstreuungsintensitätswerte in Abhängigkeit von den Oberflächeneigenschaftsklassen,- für mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen, zusätzliches Unterscheiden der Rückstreuungsintensitätswerte in Abhängigkeit von vorbestimmten Lokal-Einfallswinkel-Intervallen,- für die mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen, Quantifizieren einer Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall,- für die mindestens eine der Oberflächeneigenschaftsklassen und für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall, Ermitteln des mit größter Wahrscheinlichkeit zugehörigen Rückstreuungsintensitätswerts,- Bereitstellen eines einfallswinkelabhängigen parametrisierten Modells der Rückstreuungsintensitätswerte, wobei das Modell durch eine Anzahl von Parametern definiert ist, und- Schätzen derartiger Modellparameter durch Anwenden eines nichtlinearen gewichteten Fitting-Prozesses an den wahrscheinlichsten Rückstreuungsintensitätswerten, wobei die in dem Fitting-Prozess verwendeten Wichtungen unter Berücksichtigung der Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte bestimmt werden,- wobei das Quantifizieren der Zuverlässigkeit der Rückstreuungsintensitätswerte durchgeführt wird auf der Basis (i) der Anzahl gemessener Radardaten, die berücksichtigt werden, wobei die Zuverlässigkeit direkt proportional zu der Anzahl der berücksichtigten gemessenen Radardaten ist, und (ii) eines Schätzfehlers zwischen einerseits der Verteilung der Rückstreuungsintensitätswerte für jedes Lokal-Einfallswinkel-Intervall innerhalb der mindestens einen der Oberflächeneigenschaftsklassen und andererseits einer Funktion der theoretischen Wahrscheinlichkeitsdichte, mit der an der Verteilung der Rückstreuungsintensitätswerte ein Fitting-Prozess vorgenommen wird, wobei die Zuverlässigkeit umgekehrt proportional zu dem Betrag des Schätzfehlers ist.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt		 CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt		 CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt		 CTNP SABEL, D. u.a.: Sigma Nought Statistics over Land Activity - Final report (2009) (ESA contract No. 22122/08/NL/JA), Institute of Photogrammetry and Remote Sensing, Technische Universität Wien, Österreich p 0;
ULABY, F.T.; DOBSON, M.C.: Handbook of Radar Scattering Statistics for Terrain, Artech House, 1989, S. 88-97 p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt		 CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01S 13/89
G01S 13/90
G01S 7/41