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Titel |
TI |
[DE] Verwendung von optisch anisotropen Partikeln |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Leibniz-Institut für Neue Materialien gemeinnützige Gesellschaft mit beschränkter Haftung, 66123, Saarbrücken, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Chen, Si, Ontario, Toronto, CA
;
Kraus, Tobias, Dr., 66111, Saarbrücken, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
22.12.2011 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102011056898 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
27.06.2013 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 13/00
(2012.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01M 99/00
(2012.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
B82Y 30/00
(2012.01)
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 15/00
G01N 21/49
G01N 21/553
G01N 21/88
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 13/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01M 99/00
(2011.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
B82Y 30/00
(2011.01)
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die vorliegende Erfindung betrifft die Verwendung von optisch anisotropen Partikeln, um physikalische Parameter bzw. die mikroskopische Struktur von Systemen zerstörungsfrei zu prüfen bzw. zu bestimmen. Die Mobilität der optisch anisotropen Partikel wird zur Untersuchung physikalischer Parameter bzw. der mikroskopischen Struktur von Systemen verwendet. Hierbei wird die Mobilität der Partikel durch ein optisches System gemessen. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US020110212450A1
WO002008124853A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 13/00
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