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Titel |
TI |
[DE] Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip
[EN] Optical beam splitter, particularly for use in beam path of light microscope, for displaying multiple focal planes of object on optical detector, has monolithic base module comprising beam splitter module |
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Anmelder/Inhaber |
PA |
"Stiftung CAESAR" (Center of Advanced European Studies and Research), 53175, Bonn, DE
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Erfinder |
IN |
Alvarez, Luis, 53175, Bonn, DE
;
Honnef, Rolf, 53113, Bonn, DE
;
Jikeli, Jan, 50679, Köln, DE
;
Pascal, René, Dr., 53225, Bonn, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
29.10.2010 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102010049751 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
03.05.2012 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02B 27/14
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G02B 21/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G02B 21/18
G02B 27/0075
G02B 27/14
G02B 27/144
G02B 27/146
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G02B 27/14
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G02B 21/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Optischer Strahlteiler (16), insbesondere zum Einsatz im Strahlengang eines Lichtmikroskops, zur Darstellung mehrerer Fokusebenen eines Objekts auf einem optischen Detektor, insbesondere auf einem lichtempfindlichen Array einer Digitalkamera, gekennzeichnet durch ein insbesondere monolithisches Grundmodul (3, 14, 15), aufweisend ein Strahlteilermodul (1) mit einer Eintrittsfläche (4) für einen vom Objekt ausgehenden Probenstrahl (5), einer Durchtrittsfläche (6), auf die der Probenstrahl (5) schräg, insbesondere in einem Winkel von 45°, auftrifft, wobei ein erster Teilstrahl (7) die Durchtrittsfläche (6) durchdringt und ein zweiter Teilstrahl (9) an der Durchtrittsfläche (6) teilreflektiert wird, und einer Austrittsfläche (10) für den Austritt des zweiten Teilstrahls (9), und aufweisend ein Umlenkmodul (2), mittels dem der zweite Teilstrahl (9) zumindest annähernd parallel zum ersten Teilstrahl (7) ausrichtbar ist, wobei das Umlenkmodul (2) an der Austrittsfläche (10) für den Austritt des zweiten Teilstrahls (9) anliegt.
[EN] The optical beam splitter has a monolithic base module (3) comprising a beam splitter module (1). The beam splitter module has an inlet surface (4) for a sample beam (5) emanating from an object and an outlet surface (10) for the outlet of a partial beam (9). A deflection module (2) lies on the outlet surface for the outlet of the partial beam. Independent claims are also included for the following: (1) an assembly kit for assembling an optical beam splitter; and (2) a light microscope with an optical element. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010206061A1
DE000060130356T2
EP000000076344A1
US000005719702A
US020090180181A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
WO002009146016A1
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
P. M. Blanchard, and A. H. Greenaway, Simultaneous multi-plane imaging with a distorted diffraction grating, Applied Optics, 38(32): p. 6692-9, (1999) 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G02B 21/00
G02B 27/14
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