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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Abstandsbestimmungsvorrichtung eines optischen Systems |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Scopis GmbH, 10961, Berlin, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kosmecki, Bartosz, 12047, Berlin, DE
;
Reutter, Andreas, 10439, Berlin, DE
;
Özbek, Christopher, 12163, Berlin, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
15.10.2010 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102010042540 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
04.09.2014 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
A61B 1/04
(2006.01)
A61B 19/00
(2006.01)
G01B 11/03
(2006.01)
G01B 11/14
(2006.01)
G01B 11/24
(2006.01)
G01S 17/48
(2006.01)
G01S 7/497
(2006.01)
G02B 23/24
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
A61B 1/00057
A61B 2017/00725
A61B 2034/2055
A61B 34/20
A61B 5/064
A61B 5/065
A61B 90/361
G01B 11/14
G01B 21/042
G01S 5/163
G01S 7/497
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
A61B 1/04
(2006.01)
A61B 19/00
(2006.01)
G01B 11/03
(2006.01)
G01B 11/14
(2006.01)
G01B 11/24
(2006.01)
G01S 17/48
(2006.01)
G01S 7/497
(2006.01)
G02B 23/24
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zum Kalibrieren einer Abstandsbestimmungsvorrichtung eines optischen Systems zum Bestimmen eines Abstandes oder Ortsvektors zwischen dem optischen System und einem Objekt, mit den Schritten: a) Bereitstellen eines Erfassungssystems, das eine Mehrzahl von Markierungselementen (6) sowie eine Messkamera (7) zum Erfassen der räumlichen Position der Markierungselemente (6) umfasst; b) Anordnen der Markierungselemente (6) an dem optischen System (3); c) Bereitstellen eines Trägers (4), mit dem ein Kalibriermuster (5) verbunden ist und/oder der ein Kalibriermuster (5) ausformt; d) Projizieren einer Lichtstruktur (8) auf den Träger (4) mittels der Abstandsbestimmungsvorrichtung (2); e) Erfassen der Markierungselemente (6), des Kalibriermusters (5) und/oder an dem Träger (4) angeordneter Trägermarkierungselemente mittels der Messkamera (7); f) Ermitteln der räumlichen Position der Markierungselemente (6) und damit der räumlichen Position des optischen Systems (3) unter Verwendung von Daten der Messkamera (7); g) Ermitteln von Koordinaten des Kalibriermusters (5) in einem ersten, der Messkamera (7) zugeordneten Koordinatensystem unter Verwendung von Daten der Messkamera (7); h) Erzeugen eines Bildes des Kalibriermusters (5) und der Lichtstruktur (8) mit einer Kamera des optischen Systems (3); ... |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010308383A1
EP000000403399B1
EP000000905538B1
US000006517478B2
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
A61B 1/00
A61B 1/04
A61B 19/00 R
A61B 19/00
A61B 34/00
A61B 34/10
A61B 34/20
A61B 90/00
A61B 90/90
A61B 90/98
G01B 11/00
G01B 11/03
G01B 11/14
G01B 11/24
G01S 17/48
G01S 7/497
G02B 23/24
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