Bibliografische Daten

Dokument DE102010021691A1 (Seiten: 26)

Bibliografische Daten Dokument DE102010021691A1 (Seiten: 26)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Schichtverbund mit einer eindimensionalen Kompositstruktur
71/73 Anmelder/Inhaber PA Leibniz-Institut für Neue Materialien gemeinnützige GmbH, 66123, Saarbrücken, DE
72 Erfinder IN Aktas, Oral Cenk, Dr., 66123, Saarbrücken, DE ; Lee, Juseok, Dipl.-Ing., 66121, Saarbrücken, DE ; Martinez Miró, Marina, Dipl. Chem.Ing., 66123, Saarbrücken, DE ; Smail, Hakima, Dr., 81929, München, DE ; Veith, Michael, Prof. Dr., 66386, St. Ingbert, DE
22/96 Anmeldedatum AD 27.05.2010
21 Anmeldenummer AN 102010021691
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 01.12.2011
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM C09J 9/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS B32B 7/04 (2006.01)
B82B 1/00 (2006.01)
C09J 5/00 (2006.01)
C23C 16/18 (2006.01)
C23C 16/458 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B32B 13/04
B32B 15/04
B32B 15/14
B32B 15/18
B32B 15/20
B32B 2255/26
B32B 2307/72
B32B 2307/732
B32B 2419/00
B32B 2439/00
B32B 2457/00
B32B 2479/00
B32B 2607/00
B32B 27/302
B32B 27/304
B32B 27/308
B32B 27/32
B32B 27/322
B32B 27/34
B32B 27/365
B32B 5/02
B32B 5/022
B32B 5/024
B32B 5/026
B32B 7/04
B32B 7/12
B32B 9/00
B32B 9/005
B32B 9/047
Y10T 156/10
Y10T 428/24826
Y10T 428/265
Y10T 428/31678
MCD-Hauptklasse MCM C09J 9/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS B32B 7/04 (2006.01)
B82B 1/00 (2006.01)
C09J 5/00 (2006.01)
C23C 16/18 (2006.01)
C23C 16/458 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft einen Schichtverbund aus zwei Subtraten, welche mit einer haftvermittelnden Schicht verbunden sind, wobei diese haftvermittelnde Schicht eine eindimensionale Kompositstruktur erhält. Dies ermöglicht zum einen eine rein anorganische Verbindung verschiedener Materialien, als auch eine stark verbesserte Verbindung bei Verwendung von Klebemitteln.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102006013484A1
DE102006026538A1
WO002003060194A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT DE000019529241A1
DE102006013848A1
US000006099960A
WO002001049776A2
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP ASTM D 3330 1;
Standard-Test (ASTM D 3330) 1;
Veith et al. (Chem. Ber. 1996, 129, 381-384) 1;
Veith et al. Chem. Ber. 1996, 129, 381-384 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B32B 5/02
B32B 7/04
B82B 1/00
C09J 5/00
C09J 9/00
C23C 16/18
C23C 16/458