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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Messung der Junction-Temperatur bei Leistungshalbleitern in einem Stromrichter |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Infineon Technologies AG, 85579, Neubiberg, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Lutz, Josef, Dr., 09126, Chemnitz, DE
;
Paul, Stephan, 09117, Chemnitz, DE
;
Zill, Jörg, 09127, Chemnitz, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
13.01.2010 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102010000875 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
22.05.2014 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01K 7/01
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
H02M 1/32
(2007.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01K 2217/00
G01K 7/01
H02M 1/32
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01K 7/01
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
H02M 1/32
(2007.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der Sperrschichttemperatur (Tj) eines Leistungstransistors (T1top) in einem Stromrichter; das Verfahren umfasst folgende Schritte: Stoppen des Stromrichterbetriebs für mindestens eine Messzeitdauer; Leitendes Ansteuern des Leistungstransistors (T1top); Einspeisen eines Stroms (iQ) in einen Laststrompfad des Leistungstransistors (T1top); Messen des Spannungsabfalls (VCE) über dem Laststrompfad des Leistungstransistors (T1top); Berechnen der Sperrschichttemperatur (Tj) aus dem Spannungsabfall (VCE); wobei das Einspeisen des Stroms (iT) folgendes umfasst: Messen eines durch den Leistungstransistor (T1top) fließenden Ruhestroms (iM) in einer mit dem Leistungstransistor verbundenen Versorgungsleitung (VCC); Einstellen der Höhe des einzuspeisenden Stroms (iQ) derart, dass dieser der Differenz zwischen einem vordefinierten, konstanten Teststrom (iT) und dem gemessenen Ruhestrom (iM) entspricht; und Einspeisen des Stromes (iQ), sodass der in dem Leistungstransistor (T1top) fließende Summenstrom dem vordefinierten, konstanten Teststrom (iT) entspricht. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000004324982A1
DE000010351843A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01K 7/01
H02M 1/32
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