54 |
Title |
TI |
[DE] Projektionsobjetiv |
71/73 |
Applicant/owner |
PA |
Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 Oberkochen, DE
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72 |
Inventor |
IN |
Walser, Reinhold, 89077 Ulm, DE
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22/96 |
Application date |
AD |
Nov 26, 2009 |
21 |
Application number |
AN |
102009047179 |
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Country of application |
AC |
DE |
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Publication date |
PUB |
Jun 9, 2011 |
33 31 32 |
Priority data |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC main class |
ICM |
G02B 17/06
(2006.01)
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51 |
IPC secondary class |
ICS |
G02B 13/14
(2006.01)
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G02B 17/0647
G03F 7/70233
G03F 7/70308
G03F 7/70316
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MCD main class |
MCM |
G02B 17/06
(2006.01)
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MCD secondary class |
MCS |
G02B 13/14
(2006.01)
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MCD additional class |
MCA |
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57 |
Abstract |
AB |
[DE] Um die Gesamttransmission eines Projektionsobjektivs insbesondere für die EUV-Lithographie zu erhöhen, wird ein Projektionsobjektiv (7) zur Abbildung eines in einer Objektebene (5) angeordneten Musters in eine Bildebene (9) mit Hilfe von elektromagnetischer Strahlung (3) aus dem extremen Ultraviolettbereich (EUV), wobei zwischen der Objektebene (5) und der Bildebene (9) mehrere mit Reflexbeschichtungen versehene, abbildende Spiegel (M1–M8) angeordnet sind und wobei mindestens einer der Spiegel (M1–M8) eine gradierte Reflexbeschichtung aufweist, vorgeschlagen, bei dem die gradierte Reflexbeschichtung einen elliptischen, parabolischen oder hyperbolischen Schichtdickenverlauf aufweist. |
56 |
Cited documents identified in the search |
CT |
EP000001282011A2
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56 |
Cited documents indicated by the applicant |
CT |
US000006927901B2
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56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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56 |
Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G02B 17/06
G03B 27/54
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