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Titel |
TI |
[DE] Schaltung, Eigenschaftsgraph und Verfahren zum Erzeugen einer Schaltung
[EN] Circuit, particularly electrical circuit, has storage unit for storing circuit conditions and logic unit for determining successive conditions, particularly for generating output values by processing circuit conditions |
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Anmelder/Inhaber |
PA |
Technische Universität Chemnitz, 09111 Chemnitz, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Heinkel, Ulrich, Prof. Dr.-Ing., 09127 Chemnitz, DE
;
Langer, Jan, Dipl.-Ing., 09123 Chemnitz, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
18.09.2009 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102009041815 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
31.03.2011 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G06F 17/50
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G06F 30/30
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G06F 17/50
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Schaltung (1), insbesondere elektrische Schaltung, umfassend a) eine Speichereinheit (M) zum Speichern von Schaltungs-Zuständen (S1, S3, S3, ...), a1) wobei ein Schaltungs-Zustand jeweils wenigstens einen Folge-Zustand (S2, S3, ...) aufweist, b) eine Logikeinheit (L) zum Bestimmen der Folge-Zustände sowie insbesondere zur Erzeugung von Ausgangswerten (A) durch Verarbeiten von Schaltungs-Zuständen (S1, S2, S3, ...), insbesondere unter Einbeziehung von Eingangswerten (E), c) eine Takterzeugungseinheit (T) zur Festlegung von aufeinander folgenden Takt-Zeitpunkten, d) wobei die Schaltung bevorzugt das Verhalten, das ein Eigenschaftsgraph beschreibt, wiedergibt. Ferner betrifft die Erfindung einen Eigenschaftsgraph für eine Schaltung, insbesondere für eine Schaltung gemäß der Erfindung, a) wobei der Eigenschaftsgraph (G2) Graphen-Eigenschaften (P1, P2, ...) aufweist, b) wobei eine Graphen-Eigenschaft (P1, P2, ...) zeitlich aufeinander folgende Eigenschaftszeitpunkte (P11, P12, P21, P22, ...) aufweist, c) wobei die Eigenschaftszeitpunkte einen Anfangszeitpunkt (P11, P21, ...) sowie einen Endzeitpunkt (P12, P22, ...) umfassen, d) wobei ein Eigenschafftszeitpunkt (P11, P12, P21, P22, ...) in einem folgenden Zeitpunkt, insbesondere im folgenden Takt-Zeitpunkt, in einen anderen Eigenschaftszeitpunkt übergeht. Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zum ...
[EN] The circuit has a storage unit for storing circuit conditions and a logic unit for determining the successive conditions, particularly for generating output values by processing circuit conditions, particularly by integrating input values. A time generating unit is provided for determining successive time points. An independent claim is also included for a method for producing a circuit. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
SCHICKEL, M. (ET AL.): CandoGen-A Property-Based Model Generator. Presented at University Booth, DATE, 2007, http://www.cecs.uci.edu/~papers/date07_universitybooth/Sessions/Session2/S27.pdf n;
SCHICKEL, M. [et.al.]: A Case-Study in Property-Based Synthesis: Generating a Cache Controller from a Property-Set. In: Embedded Systems Specification and Design Languages. Springer Netherlands, 2008. S. 271-275, (Reprint S. 1 - 2). n;
SCHICKEL, V. (ET AL.): CandoGen-A Property-Based Model Generator. Presented at University Booth, DATE, 2007, http://www.cecs.uci.edu/~papers/date07_universityb oth/Sessions/Session2/S27.pdf 0;
Wikipedia-Artikel: Schaltwerk (Technische Informatik), 03.04.2009, http://de.wikipedia.org/w/index.php?title=Schaltwe k_(Technische_Informatik)&oldid=58627768 0;
Wikipedia-Artikel: Schaltwerk (Technische Informatik), 03.04.2009, http://de.wikipedia.org/w/index.php?title=Schaltwerk_(Technische_Informatik)&oldid=58627768 n
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G06F 17/50
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