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Titel |
TI |
[DE] Mikrotiterplatte mit Heizeinrichtung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Schneckenburger, Herbert, Prof. Dr., 73431 Aalen, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Bruns, Thomas, 28832 Achim, DE
;
Schneckenburger, Herbert, 73431 Aalen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
01.04.2009 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102009015869 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
03.03.2011 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B01L 7/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B01L 3/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B01L 2200/141
B01L 2200/147
B01L 2300/0829
B01L 2300/1827
B01L 2300/185
B01L 3/50851
B01L 7/52
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B01L 7/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B01L 3/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Mikrotiterplatte mit Heizeinrichtung zum Temperieren von zweidimensional angeordneten Proben mit elektrischen Widerstandselementen und Temperatursensoren, sowie einem Wärme leitenden Medium, wobei die Mikrotiterplatte zweidimensional angeordnete Kavitäten für Proben aufweist, ferner zwischen den Kavitäten angeordnete Kompartimente, welche im Betrieb mit dem Wärme leitenden Medium ausgefüllt sind, wobei die Heizeinrichtung als an die Mikrotiterplatte angepasster Beisatz ausgebildet ist, wobei der Beisatz elektrische Widerstandselemente aufweist, welche im Betrieb in die Kompartimente eintauchen, wobei die elektrischen Widerstandselemente an einer Platte angeordnet sind, die korrespondierend zu den Kavitäten mit Löchern versehen ist, so dass sich die Temperatur der Proben in den Kavitäten einstellen lässt und während oder nach der Einstellung der Temperatur sensorische, insbesondere optische Messungen von Probenparametern durchführbar sind. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010043323A1
DE000010228431B4
EP000000542422A1
US000006171850B1
WO001999016549A1
WO002001072424A1
WO002002047821A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B01L 3/00 M
B01L 7/00
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