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Bibliografische Daten

Dokument DE102008045055A1 (Seiten: 31)

Bibliografische Daten Dokument DE102008045055A1 (Seiten: 31)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Elektromagnetische Bandgap-Struktur und Leiterplatte
71/73 Anmelder/Inhaber PA Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd., Suwon, Kyonggi, KR
72 Erfinder IN Han, Mi-Ja, Jeonju, Jeollabuk, KR ; Kim, Han, Yongin, Kyonggi, KR ; Park, Dae-Hyun, Ulsan, KR
22/96 Anmeldedatum AD 26.08.2008
21 Anmeldenummer AN 102008045055
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 10.06.2009
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
KR
20070126760
07.12.2007
33
31
32
PRC
PRN
PRD
KR
20080057443
18.06.2008
51 IPC-Hauptklasse ICM H01P 1/219 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC H01L 2224/16225
H01P 1/2005
H01P 1/20327
H05K 1/0236
H05K 2201/09309
H05K 2201/09663
H05K 2201/09681
MCD-Hauptklasse MCM H01P 1/219 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Gemäß vorliegender Erfindung kann die Platine eine dielektrische Schicht, mehrere leitfähige Platten und eine zusammengesetzte Durchkontaktierung (Stitching Via) umfassen, um zwei der leitfähigen Platten miteinander elektrisch zu verbinden. Dabei kann die zusammengesetzte Durchkontaktierung eine erste Durchkontaktierung und eine zweite Durchkontaktierung umfassen, die durch die dielektrische Schicht hindurchgehen und einen Endteil aufweisen, der auf der gleichen planaren Oberfläche wie jede der beiden leitfähigen Platten angeordnet ist; eine Verbindungsstruktur, deren Endteil jeweils mit dem anderen Endteil der ersten Durchkontaktierung bzw. der zweiten Durchkontaktierung verbunden ist; und eine erste Erweiterungsstruktur, die auf der gleichen planaren Oberfläche wie die eine der leitfähigen Platten angeordnet ist und deren einer Endteil mit dem einen Endteil der ersten Durchkontaktierung verbunden ist und deren anderer Endteil mit einer der leitfähigen Platten verbunden ist.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT US020050029632A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP Characterization of electromagnetic band-gaps composed of multiple periodic tripods with interconnecting vias: concept, analysis, and design, Barlevy, A.S.; Rahmat-Samii, Y.; IEEE Transactions on Antennas and Propagation, , vol.49, no.3, pp.343-353, Mar 2001 n
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP H01P 1/219