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Bibliografische Daten

Dokument DE102008013116B4 (Seiten: 14)

Bibliografische Daten Dokument DE102008013116B4 (Seiten: 14)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Erzeugung einer mikromechanischen Struktur
71/73 Anmelder/Inhaber PA Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686, München, DE
72 Erfinder IN Drabe, Christian, 01099, Dresden, DE ; Jung, Denis, 01099, Dresden, DE ; Klose, Thomas, 01109, Dresden, DE ; Sandner, Thilo, Dr., 01156, Dresden, DE ; Schenk, Harald, Dr., 01139, Dresden, DE ; Wolter, Alexander, Dr., 01156, Dresden, DE
22/96 Anmeldedatum AD 07.03.2008
21 Anmeldenummer AN 102008013116
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 11.04.2013
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
102007015720
20070402
51 IPC-Hauptklasse ICM B81C 1/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS B81B 5/00 (2006.01)
B81B 7/02 (2006.01)
G02B 26/10 (2006.01)
H01L 21/46 (2013.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B81B 2203/0384
B81B 2203/04
B81C 1/00103
MCD-Hauptklasse MCM B81C 1/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS B81B 5/00 (2006.01)
B81B 7/02 (2006.01)
G02B 26/10 (2006.01)
H01L 21/46 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur mit folgenden Schritten: Ausbilden (2) einer zweidimensionalen Struktur (12, 16) in einem Substrat (10), wobei die zweidimensionale Struktur eine Elektrode (12) und eine Gegenelektrode (16) aufweist; mechanisches Einwirken (4) auf die Gegenelektrode (16) durch einen Mikromanipulator (26), um die Gegenelektrode (16) aus der Substratebene auszulenken und gegen eine weitere Substratschicht (28) oder eine Mesastruktur (60) zu bewegen, wobei die weitere Substratschicht (28) oder die Mesastruktur (60) mit einem Abstand von dem Substrat (10) angeordnet wird, der von einem erwünschten Drehwinkel der Gegenelektrode (16) abhängt; und Fixieren (6) der Gegenelektrode (16) im ausgelenkten Zustand an der weiteren Substratschicht (28) oder der Mesastruktur (60).
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT FR000002880731A1
US020050013087A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B81B 5/00
B81B 7/02
B81C 1/00
H01L 21/46