Bibliographic data

Document DE102008013066B3 (Pages: 21)

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INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung und Verwendung der Vorrichtung
71/73 Applicant/owner PA Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147 Köln, DE
72 Inventor IN Berthel, Dominik, 97357 Prichsenstadt, DE ; Dill, Stephan, 80339 München, DE ; Jirousek, Matthias, 82319 Starnberg, DE ; Peichl, Markus, Dr., 82131 Gauting, DE
22/96 Application date AD Mar 6, 2008
21 Application number AN 102008013066
Country of application AC DE
Publication date PUB Oct 1, 2009
33
31
32		 Priority data PRC
PRN
PRD

51 IPC main class ICM H01Q 3/12 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS G01S 13/89 (2006.01)
H01Q 19/19 (2006.01)
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G01S 13/426
G01S 13/89
H01Q 3/10
H01Q 3/16
H01Q 3/20
MCD main class MCM H01Q 3/12 (2006.01)
MCD secondary class MCS G01S 13/89 (2006.01)
H01Q 19/19 (2006.01)
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Zur zweidimensionalen Szenenabbildung durch kontinuierliche, passive oder aktive Mikrowellen-Abtastung dient eine vollmechanische Richtantennenanordnung mit Hauptreflektor (1), Primärstrahleranordnung (3) und einem relativ zum Hauptreflektor klein bemessenen Subreflektor (2), der bezüglich der optischen Achse (7) der Richtantennenanordnung geneigt ist. Erste Antriebsmittel (8) sorgen für eine Rotation des Subreflektors um die optische Achse und zweite Antriebsmittel (17, 18) für eine Bewegung der gesamten Richtantennenanordnung in einer Richtung zumindest angenähert senkrecht zur optischen Achse. Die Bewegungsgeschwindigkeit des Subreflektors ist zu derjenigen der gesamten Richtantennenanordrm, Primärstrahler, Abstand Primärstrahler-Subreflektor und Abstand Subreflektor-Hauptreflektor sind als Fokussierungsparameter so aufeinander abgestieine optimale Fokussierung und Gesichtsfeldgröße einstellt. Die Fokussierungsparameter und die Bewegungsgeschwindigkeiten der beiden Antriebsmittel sind so eingestellt, dass sich eine lückenlose kontinuierliche Szenenabtastung durch den sich im Szenenabstand bewegenden Fokussierungsfleck (12) ergibt. Anwendung bei Fernerkundung, insbesondere Erdbeobachtung und Sicherheitstechnik.
56 Cited documents identified in the search CT EP000000002982A1
EP000000514886A1
US000006943742B2
WO002005017559A2
WO002005085903A1
WO002007028472A1
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP MARTIN, C.A. et al.: High-resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers. In: Proc. SPIE, Vol. 6548, 654806 (2007), S. 1-10 p 0
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
Sequence listings
Search file IPC ICP G01S 13/89
G01V 8/00
H01Q 19/19
H01Q 3/10
H01Q 3/12
H01Q 3/16
H01Q 3/20