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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung und Verwendung der Vorrichtung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147 Köln, DE
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Erfinder |
IN |
Berthel, Dominik, 97357 Prichsenstadt, DE
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Dill, Stephan, 80339 München, DE
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Jirousek, Matthias, 82319 Starnberg, DE
;
Peichl, Markus, Dr., 82131 Gauting, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
06.03.2008 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102008013066 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
01.10.2009 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H01Q 3/12
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01S 13/89
(2006.01)
H01Q 19/19
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 13/426
G01S 13/89
H01Q 3/10
H01Q 3/16
H01Q 3/20
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
H01Q 3/12
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 13/89
(2006.01)
H01Q 19/19
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Zur zweidimensionalen Szenenabbildung durch kontinuierliche, passive oder aktive Mikrowellen-Abtastung dient eine vollmechanische Richtantennenanordnung mit Hauptreflektor (1), Primärstrahleranordnung (3) und einem relativ zum Hauptreflektor klein bemessenen Subreflektor (2), der bezüglich der optischen Achse (7) der Richtantennenanordnung geneigt ist. Erste Antriebsmittel (8) sorgen für eine Rotation des Subreflektors um die optische Achse und zweite Antriebsmittel (17, 18) für eine Bewegung der gesamten Richtantennenanordnung in einer Richtung zumindest angenähert senkrecht zur optischen Achse. Die Bewegungsgeschwindigkeit des Subreflektors ist zu derjenigen der gesamten Richtantennenanordrm, Primärstrahler, Abstand Primärstrahler-Subreflektor und Abstand Subreflektor-Hauptreflektor sind als Fokussierungsparameter so aufeinander abgestieine optimale Fokussierung und Gesichtsfeldgröße einstellt. Die Fokussierungsparameter und die Bewegungsgeschwindigkeiten der beiden Antriebsmittel sind so eingestellt, dass sich eine lückenlose kontinuierliche Szenenabtastung durch den sich im Szenenabstand bewegenden Fokussierungsfleck (12) ergibt. Anwendung bei Fernerkundung, insbesondere Erdbeobachtung und Sicherheitstechnik. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
EP000000002982A1
EP000000514886A1
US000006943742B2
WO002005017559A2
WO002005085903A1
WO002007028472A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
MARTIN, C.A. et al.: High-resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers. In: Proc. SPIE, Vol. 6548, 654806 (2007), S. 1-10 p 0
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 13/89
G01V 8/00
H01Q 19/19
H01Q 3/10
H01Q 3/12
H01Q 3/16
H01Q 3/20
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