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Titel |
TI |
[DE] Einrichtung zur aktiven mechanischen Regelung von optischen Elementen zur Detektion von Röntgenstrahlung |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Technische Universität Dresden, 01069 Dresden, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Leisegang, Tilmann, 01097 Dresden, DE
;
Meyer, Dirk C., 01326 Dresden, DE
;
Müller, Jan, 01237 Dresden, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
09.07.2007 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102007063682 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
14.10.2010 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
DE
102007033210
20070709
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G21K 1/06
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01T 1/24
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01T 1/24
G21K 1/06
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G21K 1/06
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01T 1/24
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Einrichtung (1) zur aktiven mechanischen Regelung von optischen Elementen (10) zur Detektion von Röntgenstrahlung (111) für die Verwendung in adaptiven Röntgenoptiken, wobei die Einrichtung (1) enthält - eine Auflage (4) für das optische Element (10) in Verbindung mit einer Kippvorrichtung (9) zur Änderung des Einstrahlwinkels (ω) der Röntgenstrahlung (111) auf das optische Element (10), - eine Einrichtung (20) zur Einstellung von Reflexionsbedingungen und von Positionen der Auflage (4) in Verbindung mit der Kippvorrichtung (9) und - einen Detektor. Als Detektor ist eine Strommesseinrichtung (3) mit mindestens zwei Anschlüssen (6, 7) vorgesehen, die mit dem auf der Auflage (4) aufliegenden optischen Element (10) elektrisch verbindbar sind, wobei das optische Element (10) zumindest aus einer auf einem Substrat (2; 14, 15, 16; 14, 17, 15, 16) aufgebrachten, Röntgenstrahlung (112) selektiv reflektierenden Komponentenschicht (11; 12, 13; 101, 12, 13), die zumindest zwei übereinander angeordnete Nanoschichten (12, 13) unterschiedlicher Dichte enthält und in der die selektive Reflexion der Röntgenstrahlung (112) nach der Bragg-Reflexionsbedingung erfolgt, besteht und wobei das optische Element (10) voneinander beabstandete, mit elektrisch leitenden Schichten (14, 16) in Verbindung stehende Anschlüsse (6, 7), an denen die Strommesseinrichtung (3) zur Messung des zumindest von der in der selektiv reflektierenden Komponentenschicht (11; 12, ... |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
DE000068924563T2 US000004365156A US020050271957A1
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01T 1/24
G21K 1/06
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