Bibliografische Daten

Dokument DE102007063682B3 (Seiten: 16)

Bibliografische Daten Dokument DE102007063682B3 (Seiten: 16)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Einrichtung zur aktiven mechanischen Regelung von optischen Elementen zur Detektion von Röntgenstrahlung
71/73 Anmelder/Inhaber PA Technische Universität Dresden, 01069 Dresden, DE
72 Erfinder IN Leisegang, Tilmann, 01097 Dresden, DE ; Meyer, Dirk C., 01326 Dresden, DE ; Müller, Jan, 01237 Dresden, DE
22/96 Anmeldedatum AD 09.07.2007
21 Anmeldenummer AN 102007063682
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 14.10.2010
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
102007033210
20070709
51 IPC-Hauptklasse ICM G21K 1/06 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01T 1/24 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01T 1/24
G21K 1/06
MCD-Hauptklasse MCM G21K 1/06 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01T 1/24 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft eine Einrichtung (1) zur aktiven mechanischen Regelung von optischen Elementen (10) zur Detektion von Röntgenstrahlung (111) für die Verwendung in adaptiven Röntgenoptiken, wobei die Einrichtung (1) enthält - eine Auflage (4) für das optische Element (10) in Verbindung mit einer Kippvorrichtung (9) zur Änderung des Einstrahlwinkels (ω) der Röntgenstrahlung (111) auf das optische Element (10), - eine Einrichtung (20) zur Einstellung von Reflexionsbedingungen und von Positionen der Auflage (4) in Verbindung mit der Kippvorrichtung (9) und - einen Detektor. Als Detektor ist eine Strommesseinrichtung (3) mit mindestens zwei Anschlüssen (6, 7) vorgesehen, die mit dem auf der Auflage (4) aufliegenden optischen Element (10) elektrisch verbindbar sind, wobei das optische Element (10) zumindest aus einer auf einem Substrat (2; 14, 15, 16; 14, 17, 15, 16) aufgebrachten, Röntgenstrahlung (112) selektiv reflektierenden Komponentenschicht (11; 12, 13; 101, 12, 13), die zumindest zwei übereinander angeordnete Nanoschichten (12, 13) unterschiedlicher Dichte enthält und in der die selektive Reflexion der Röntgenstrahlung (112) nach der Bragg-Reflexionsbedingung erfolgt, besteht und wobei das optische Element (10) voneinander beabstandete, mit elektrisch leitenden Schichten (14, 16) in Verbindung stehende Anschlüsse (6, 7), an denen die Strommesseinrichtung (3) zur Messung des zumindest von der in der selektiv reflektierenden Komponentenschicht (11; 12, ...
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE000068924563T2
US000004365156A
US020050271957A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01T 1/24
G21K 1/06