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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Schätzung einer Bezugsphase für die Demodulation von phasenmodulierten Signalen |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Hoffmann, Sebastian, Prof. Dr.-Ing., 33613, Bielefeld, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Adamczyk, Olaf, Dr., 33378, Rheda-Wiedenbrück, DE
;
Eickhoff, Ralf, Dr.-Ing., 59609, Anröchte, DE
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Hoffmann, Sebastian, Dr.-Ing., 33613, Bielefeld, DE
;
Noe, Reinhold, Prof. Dr.-Ing., 33100, Paderborn, DE
;
Peveling, Ralf, Dipl.-Wirt.-Ing., 59555, Lippstadt, DE
;
Pfau, Timo, Dipl.-Ing., 70437, Stuttgart, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.08.2007 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102007040273 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
12.02.2015 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H04L 27/22
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
H04L 27/22
H04L 27/2334
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
H04L 27/22
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Schätzung einer Bezugsphase für die Demodulation von phasenmodulierten Signalen, wobei eine Phase des als eine Folge von komplexen Eingangssignalwerten vorliegenden Signals geschätzt wird, bei der eine Anzahl N von Vorgänger- und Nachfolgerwerten des ursprünglichen Signalwertes einbezogen werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase mittels einer mehrstufigen Filtereinheit (1) bestimmt wird, wobei Phasenwinkel (αi) der Folge von Eingangssignalwerten (Zi) paarweise einem Filterelement (20, 21, 22, 23) einer ersten Filterstufe (2) zugeführt werden, in der eine Mittelung der eingehenden Phasenwinkelwerte (α1, α2; α3, α4; α4, α5; α7) erfolgt unter Bildung einer Anzahl von gemittelten Ausgangsphasenwinkelwerten (&bgr;1, &bgr;2, &bgr;3, &bgr;4), – dass die Ausgangsphasenwinkelwerte (&bgr;1, &bgr;2, &bgr;3, &bgr;4) der Filterelemente (20, 21, 22, 23) der ersten Filterstufe (2) paarweise einer zweiten Filterstufe (3) zugeführt werden, in der eine Mittelung der eingehenden Phasenwinkelwerte (&bgr;1, &bgr;2, &bgr;3, &bgr;4) erfolgt unter Bildung einer Anzahl von gemittelten Ausgangsphasenwinkelwerten (γ1, γ2), und dass eine solche Anzahl von Filterstufen (2, 3, 4) vorgesehen ist, dass aus einer Anzahl von 2N + 1 Phasenwinkeln ein einziger Phasenwinkel (&phgr;^ ) gebildet wird. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000004223121A1
EP000000963084A2
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
H04L 27/22
H04L 27/233
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