Bibliografische Daten

Dokument DE102006048000A1 (Seiten: 4)

Bibliografische Daten Dokument DE102006048000A1 (Seiten: 4)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Herstellung eines zweiphasigen Schichtwerkstoffs
71/73 Anmelder/Inhaber PA Leibniz-Institut für Neue Materialien gem. GmbH, 66123 Saarbrücken, DE
72 Erfinder IN Kuhn, Patrick, 66701 Beckingen, DE ; Mathur, Sanjay, Prof., 66125 Saarbrücken, DE
22/96 Anmeldedatum AD 09.10.2006
21 Anmeldenummer AN 102006048000
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 10.04.2008
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM C23C 16/08 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS C23C 16/503 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC C23C 16/30
C23C 16/308
C23C 16/515
MCD-Hauptklasse MCM C23C 16/08 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS C23C 16/503 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines zweiphasigen Schichtwerkstoffs durch Schichtabscheidung im plasmaunterstützten CVD-Verfahren. Um einen zweiphasigen Schichtwerkstoff mit System Titan-Stickstoff-Sauerstoff herzustellen, wird im Rahmen der Erfindung vorgeschlagen, dass ein metallisches Substrat auf einer Kathode angeordnet wird und eine Titanquelle in eine Wasserstoff-Argon-Stickstoff-Atomsphäre zugegeben wird. In dem erfindungsgemäßen Verfahren wird der zweiphasige Schichtwerkstoff in Form von nanokristallinen Titannitrid-Ausscheidungen in einer amorphen Titanoxid-Matrix durch Zugabe von Titanisopropylat in eine Wasserstoff-Argon-Stickstoff-Atmosphäre unter Verwendung einer gepulsten Gleichstrom-Glimmentladung hergestellt. Darüber hinaus ist es möglich, die Schichteigenschaften gezielt einzustellen.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP C23C 16/08
C23C 16/30
C23C 16/503