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Document DE102006037510B3 (Pages: 14)

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INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Verfahren zum Herstellen einer Grabenstruktur, die Verwendung dieses Verfahrens zur Herstellung einer Halbleiteranordnung und Halbleiteranordnung mit einer Grabenstruktur
71/73 Applicant/owner PA Infineon Technologies Austria AG, Villach, AT
72 Inventor IN Hirler, Franz, Dr., 84424 Isen, DE ; Mauder, Anton, Dr., 83059 Kolbermoor, DE ; Rueb, Michael, Dr., Faak am See, AT ; Schulze, Hans-Joachim, Dr., 85521 Ottobrunn, DE ; Strack, Helmut, Dr., 80804 München, DE
22/96 Application date AD Aug 10, 2006
21 Application number AN 102006037510
Country of application AC DE
Publication date PUB Apr 10, 2008
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Priority data PRC
PRN
PRD


51 IPC main class ICM H01L 21/336 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS H01L 21/762 (2006.01)
H01L 29/772 (2006.01)
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC H01L 21/3247
H01L 21/76224
H01L 29/0653
H01L 29/407
H01L 29/66621
H01L 29/7803
H01L 29/7804
MCD main class MCM H01L 21/336 (2006.01)
MCD secondary class MCS H01L 21/762 (2006.01)
H01L 29/772 (2006.01)
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Bei einem Verfahren zur Herstellung einer Grabenstruktur wird ein erster Grabenabschnitt von einer Oberfläche eines Halbleiterkörpers ausgehend in den Halbleiterkörper hinein erzeugt. Eine Halbleiterschicht wird über der Oberfläche und über den ersten Grabenabschnitt erzeugt. Ein weiterer Grabenabschnitt wird in der Halbleiterschicht derart erzeugt, dass der erste Grabenabschnitt und der weitere Grabenabschnitt eine durchgängige Grabenstruktur bilden. Eine Halbleiteranordnung weist eine Grabenstruktur auf, die aus mehreren vertikalen Grabenabschnitten und mindestens einem Verbindungselement zusammengesetzt ist.
56 Cited documents identified in the search CT DE102005039331A1
US000007052941B2
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
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Search file IPC ICP H01L 21/336
H01L 21/762 T