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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Entfernungsmessung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
PMD Technologie GmbH, 57076, Siegen, DE
;
ifm electronic gmbh, 45128, Essen, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Albrecht, Martin, 57072, Siegen, DE
;
Buck, Martin, 88142, Wasserburg, DE
;
Buxbaum, Bernd, Dr., 57072, Siegen, DE
;
Fensterle, Rolf, 88048, Friedrichshafen, DE
;
Lange, Robert, Dr., 57368, Lennestadt, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
30.07.2004 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102004037137 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
09.02.2017 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 17/87
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01C 3/08
(2006.01)
G01S 17/36
(2006.01)
G01S 17/48
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01C 3/085
G01S 17/36
G01S 17/48
G01S 17/86
G01S 17/87
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01C 3/08
(2006.01)
G01S 17/36
(2006.01)
G01S 17/48
(2006.01)
G01S 17/86
(2020.01)
G01S 17/87
(2020.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Entfernungsmessung, bei dem ein Objekt mit intensitätsmodulierter elektromagnetischer Strahlung beleuchtet wird und die Intensität der von dem Objekt gestreuten und/oder reflektierten Strahlung mit mindestens einem Detektor Laufzeit-sensitiv detektiert wird, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein weiteres optisches Verfahren zur Entfernungsmessung angewandt wird, wobei es sich bei dem weiteren optischen Verfahren zur Entfernungsmessung um ein Triangulationsverfahren handelt, wobei der mindestens eine Detektor eine zweidimensionale Anordnung von TOF-Elementen aufweist, die als Photomischdetektoren ausgestaltet sind, und die TOF-Elemente jeweils mit einem elektrischen Referenzsignal versorgt werden, das mit der Intensitätsmodulation der elektromagnetischen Strahlung korreliert ist, wobei jeweils die auf das TOF-Element fallende intensitätsmodulierte elektromagnetische Strahlung mit dem Referenzsignal gemischt wird und wobei die Laufzeitdifferenz zwischen dem Referenzsignal und der intensitätsmodulierten elektromagnetischen Strahlung erfaßt wird. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DD000000141440A1
DD000000144828A1
DE000019821974A1
US020030125855A1
US020040135992A1
WO002002033817A1
WO002002049339A2
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01C 3/08
G01S 17/36 PMD
G01S 17/48
G01S 17/87
G01V 8/20
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