Bibliografische Daten

Dokument DE102004027842A1 (Seiten: 15)

Bibliografische Daten Dokument DE102004027842A1 (Seiten: 15)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Abrieb- und kratzfeste Beschichtungen mit niedriger Brechzahl auf einem Substrat
71/73 Anmelder/Inhaber PA INST NEUE MAT GEMEIN GMBH, DE
72 Erfinder IN ARNDT HEIKE, DE ; JILAVI MOHAMMAD, DE ; MENNIG MARTIN, DE ; OLIVEIRA PETER W, DE ; SCHMIDT HELMUT, DE
22/96 Anmeldedatum AD 08.06.2004
21 Anmeldenummer AN 102004027842
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 12.01.2006
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31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM C23C 30/00
51 IPC-Nebenklasse ICS B05D 7/24
C03C 17/22
C03C 17/23
C03C 17/34
G02B 1/10
G02B 3/00
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC C03C 17/22
C03C 2217/21
C03C 2217/285
C03C 2217/29
C03C 2218/113
G02B 1/10
G02B 1/105
G02B 1/113
G02B 1/14
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS B05D 7/24 (2006.01)
C03C 17/22 (2006.01)
C03C 17/23 (2006.01)
C03C 17/34 (2006.01)
C23C 30/00 (2006.01)
G02B 1/10 (2006.01)
G02B 3/00 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA G02B 1/11 (2006.01)
57 Zusammenfassung AB [DE] Beschrieben wird ein Substrat mit einer abrieb- und kratzfesten Beschichtung mit niedriger Brechzahl, umfassend Magnesiumfluorid und mindestens ein Metall- oder Halbmetalloxid. Die Beschichtung kann durch Aufbringen einer Beschichtungszusammensetzung, umfassend Magnesiumfluorid oder eine Vorstufe davon, und mindestens ein Metall- oder Halbmetalloxid oder eine Vorstufe davon, auf ein Substrat und anschließende Wärmebehandlung erhalten werden. DOLLAR A Die Beschichtung eignet sich für optische Schichten insbesondere auf lichtdurchlässigen Substraten. Beispiele für geeignete Anwendungen sind Antireflexschichten und Interferenzschichtpakete.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B05D 7/24
C03C 17/22
C03C 17/23
C03C 17/25
C03C 17/34
C23C 30/00
G02B 1/10
G02B 3/00