Bibliografische Daten

Dokument DE102004004045B4 (Seiten: 16)

Bibliografische Daten Dokument DE102004004045B4 (Seiten: 16)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Halbleiterbauelement mit temporärem Feldstoppbereich und Verfahren zu dessen Herstellung
71/73 Anmelder/Inhaber PA Infineon Technologies AG, 81669 München, DE
72 Erfinder IN Lutz, Josef, Prof., 09126 Chemnitz, DE ; Schulze, Hans-Joachim, Dr., 85521 Ottobrunn, DE
22/96 Anmeldedatum AD 27.01.2004
21 Anmeldenummer AN 102004004045
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 02.04.2009
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM H01L 29/36 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS H01L 21/263 (2006.01)
H01L 29/30 (2006.01)
H01L 29/739 (2006.01)
H01L 29/74 (2006.01)
H01L 29/861 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC H01L 21/263
H01L 29/0634
H01L 29/32
H01L 29/861
H01L 29/868
MCD-Hauptklasse MCM H01L 29/36 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS H01L 21/263 (2006.01)
H01L 29/06 (2006.01)
H01L 29/30 (2006.01)
H01L 29/32 (2006.01)
H01L 29/739 (2006.01)
H01L 29/74 (2006.01)
H01L 29/861 (2006.01)
H01L 29/868 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE000019709652A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP F.-J. Niedernostheide [u.a]: 13-keV Rectifiers: Studies on Diodes and Asymmetric Thyristors. In: ISISD 2003, S. 122-125 p 0;
R. Siemieniec et al.: " Analysis of Dynamic Impatt Oscillations caused by Radiation Induced Deep Centers", in: ISPSD 2003, S. 283 286 p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP H01L 29/06 E
H01L 29/06
H01L 29/36
H01L 29/74
H01L 29/78
H01L 29/861