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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Herstellung optischer Schichten von gleichmäßiger Schichtdicke |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Institut für Neue Materialien gemeinnützige GmbH, 66123 Saarbrücken, DE
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Erfinder |
IN |
Fink-Straube, Claudia, 66125 Saarbrücken, DE
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Kalleder, Axel, 66125 Saarbrücken, DE
;
Koch, Thomas, 54338 Schweich, DE
;
Mennig, Martin, 66287 Quierschied, DE
;
Schmidt, Helmut, 66130 Saarbrücken, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
06.09.1998 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
19840525 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
09.03.2000 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02B 1/10
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B05D 1/02
B05D 5/06
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G02B 1/10
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
C03C 17/02
(2006.01)
C03C 17/25
(2006.01)
G02B 1/10
(2015.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Optische Schichten von gleichmäßiger Schichtdicke werden dadurch hergestellt, daß man eine nach dem Sol-Gel-Verfahren hergestellte, ein hochsiedendes Lösungsmittel enthaltende Beschichtungszusammensetzung auf Basis anorganischer oder organisch-modifizierter, anorganischer Komponenten mit einer Flachsprühanlage auf ein Substrat aufsprüht und anschließend wärmebehandelt. Dabei wird die Naßfilmdicke beim Aufsprühen der Beschichtungszusammensetzung auf das Substrat vorzugsweise so eingestellt, daß sie mindestens um den Faktor 8 größer ist als die angestrebte Trockenfilmdicke.
[EN] According to the invention, optical layers with uniform layer thickness are produced by spraying on a substrate a coating composition produced according to the sol-gel process and containing a high boiling solvent, which is based on inorganic or organically modified components using a flat spray facility and subjecting it to thermal treatment. The wet film thickness during spraying of the coating composition on the substrate is preferably regulated in such a way that it is at least eight times bigger than the desired dry film thickness. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B05D 1/02
B05D 5/06
G02B 1/10 S
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