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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung zum Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen eines Gegenstandes, insbesondere Schublehre mit verlängerter Führung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
HELIOS Messtechnik GmbH & Co. KG, 74676 Niedernhall, DE
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Erfinder |
IN |
Both, Markus, 64560 Riedstadt, DE
;
Keller, Alexander, 65191 Wiesbaden, DE
;
Kindel, Kai-Uwe, 74196 Neuenstadt, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
06.05.2003 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
10321900 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
02.12.2004 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 3/20
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 5/00
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 3/20
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 3/20
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1; 101) zum Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen eines Gegenstandes (2; 102), insbesondere Schublehre, mit einem einen ersten Meßschnabel (3; 103) aufweisenden Grundkörper (4; 104), an dem ein Schlitten (6; 106) mittels einer Längsführung (12; 112) bewegbar ist, der einen zweiten Meßschnabel (5; 105) aufweist, wobei der Grundkörper (4; 104) und der Schlitten (6; 106) eine Maßverkörperung (123) bzw. eine Auswerteeinrichtung zur Ermittlung des Meßwertes aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß die Positionen der Führungselemente (107; 108) der Längsführung (112) einen Abstand aufweisen, der groß genug ist, um insbesondere bei kleinen Abständen der beiden Meßschnäbel (3, 5; 103, 105) ein Verkippen des Schlittens (106) gegenüber dem Grundkörper (104) zu verhindern oder auf ein meßtechnisch unbedeutendes Maß zu reduzieren. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010124552A1
US000000285684A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 3/20
G01B 5/00
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