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Titel |
TI |
[DE] Dekorationsmittel und Verfahren zu dessen Herstellung
[EN] Decoration arrangement used as a piece of jewelry contains a thin layer having non-transparent regions arranged to produce a pattern, and transparent regions |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
FRAUNHOFER GES FORSCHUNG, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
MATTHEE THORSTEN, DE
;
NEUMANN FRANK, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
08.03.2001 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
10111360 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
17.10.2002 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B44C 3/02
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B23K 26/00
B44B 1/06
B44C 1/24
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
A44C 27/00
B23K 26/066
B44B 7/002
B44F 1/06
B44F 1/08
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
A44C 27/00
(2006.01)
B23K 26/066
(2014.01)
B44B 7/00
(2006.01)
B44F 1/06
(2006.01)
B44F 1/08
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft Projektionsmasken und andere Dekorationsmittel mit dekorativen Mustern, wobei auf einem Substrat mindestens eine dünne Schicht aufgebracht ist, und in dieser dünnen Schicht das gewünschte Muster durch transparente und nicht transparente Schichtbereiche ausgebildet ist, wobei in dem Schichtmaterial beispielsweise durch Lasereinwirkung eine Phasenumwandlung von einem nicht transparenten in einen transparenten Zustand induziert werden kann oder umgekehrt.
[EN] Decoration arrangement contains a thin layer (4) having a pattern applied on a substrate (1). The thin layer has non-transparent regions (2) arranged to produce a pattern, and transparent regions (3). The non-transparent and transparent regions are formed by the phase conversion of he layer material. An Independent claim is also included for a process for the production of a pattern on a decoration arrangement. Preferred Features: The thin layer is made from Ti, Nb, Cr, Al, Ce, Zr, V, Cu, Au, In, Mo, Ta, Si, Ge, Mg or their alloys, especially Ti, Nb or their alloys or a transparent conducting oxide, preferably Zn; AlO or In; SnO. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DD000000118251A2
DE000019511977C2
DE000019642001A1
EP000000391848B1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B44B 1/06
B44C 1/22 C
B44C 3/02
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