| 54 |
Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Herstellung von in ihrer Dicke strukturierten Beschichtungen
[EN] Structured coating manufacture for micro lens production involves metering fine droplets onto substrate |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Kirsch, Thomas, 66763 Dillingen, DE
;
Sonntag, Carola, 66701 Beckingen, DE
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
Danzebrink, Rolf, Dipl.-Chem., 66119 Saarbrücken, DE
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
20.11.2000 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
10057526 |
|
Anmeldeland |
AC |
DE |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
23.05.2002 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B05D 5/06
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B29D 11/00365
G02B 3/0012
G02B 3/0043
G02B 3/005
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
B29D 11/00
(2006.01)
G02B 3/00
(2006.01)
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Herstellung von Mikrolinsen mittels eines Dosiersystems, welches Lösungen im Picoliterbereich dosieren kann, bei dem ein z. B. organisch-anorganisches Ausgangsmaterial in Tröpfchen auf einem Substrat abgesetzt und das Ausgangsmaterial mittels thermischer Energie, Mikrowellen oder ultravioletter Strahlung gehärtet wird.
[EN] Coatings are structured through their thickness and are metered onto a substrate in the form of small droplets. Preferred Features: The metering system delivers droplets in the pico and nanoliter range, in particular 20-200 microns. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
WO001995023037A1
WO001997022893A2
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
JP 2000280367 A, WPI-Abstract und computergenerierte Übersetzung des japanischen Originals n
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
B05D 5/06
|
