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Titel |
TI |
[DE] Planeten- Spektro- Diffraktometer
[EN] Planetary spectrodiffractometer |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kraeft, Uwe, Dipl.-Min., 6906 Leimen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
25.02.1985 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
3506605 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
28.08.1986 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 23/223
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 23/20
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 2223/076
G01N 23/207
G01N 23/223
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 23/207
(2006.01)
G01N 23/223
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[EN] Using an X-ray spectrometer according to Patent Application P 3438637.8, X-ray diffraction analyses are also performed in the spectrometer position when the analyser crystal is used as a monochromator. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 23/20
G01N 23/223
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