Bibliografische Daten

Dokument DE000003441539A1 (Seiten: 10)

Bibliografische Daten Dokument DE000003441539A1 (Seiten: 10)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Mehrkreis-Röntgen-Spektro-Diffraktometer = Röntgenautomat
[EN] Multi-circle X-ray spectrodiffractometer = automatic X-ray analyser
71/73 Anmelder/Inhaber PA Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München, DE
72 Erfinder IN Kraeft, Uwe, Dipl.-Min., 6906 Leimen, DE
22/96 Anmeldedatum AD 14.11.1984
21 Anmeldenummer AN 3441539
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 15.05.1986
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32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01N 23/223
51 IPC-Nebenklasse ICS G01N 23/20
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01N 2223/076
G01N 23/207
G01N 23/223
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS G01N 23/207 (2006.01)
G01N 23/223 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [EN] A demountable automatic X-ray analyser which has at least two concentric goniometer circles is used to carry out in a very simple way X-ray fluorescence analyses, X-ray diffraction analyses and crystal structure analyses in combination after interchanging the specimen positions and the crystals.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01N 23/20
G01N 23/223