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Titel |
TI |
[DE] Röntgen-Spektro-Diffraktometer
[EN] X-ray spectrometer/defraction analyser |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kraeft, Uwe, Dipl.-Min., 6906 Leimen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
22.10.1984 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
3438637 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
15.05.1986 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 23/223
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 23/20
G05G 1/00
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 2223/076
G01N 23/207
G01N 23/223
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 23/207
(2006.01)
G01N 23/223
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[EN] By exchanging or combining the modules of the X-ray spectrometers and X-ray defraction analysers, it becomes possible to use one X-ray apparatus to carry out sequential or simultaneous X-ray fluorescence analyses and X-ray defraction analyses. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 23/20
G01N 23/223
G05G 1/00
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