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Titel |
TI |
[DE] DIELEKTRISCHES OPTISCHES MIKROELEMENT |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
UNIV BERLIN HUMBOLDT, DE
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Erfinder |
IN |
DONATH EDWIN, DE
;
FUHR GUENTER, DE
;
GIMSA JAN, DE
;
HAGEDORN ROLF, DE
;
MUELLER TORSTEN, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
16.02.1990 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
33793390 |
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Anmeldeland |
AC |
DD |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
18.07.1991 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02F 1/00
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G02F 1/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein dielektrisches optisches Mikroelement, dessen untere Dimensionierungsgrenze durch die Wellenlaenge des Lichtes gegeben ist, das aus mehreren flieszfaehigen Dielektrika unterschiedlicher optischer Eigenschaften, von denen wenigstens eines fuer den verwendeten Spektralbereich transparent ist, aufgebaut ist, und als Linse, Hohlspiegel etc. Anwendung finden kann. Die optischen Eigenschaften ergeben sich aus der Kruemmung der Beruehrungsflaeche von Medien unterschiedlicher Eigenschaften und der Begrenzung des Elementes. Die Elemente sind einem elektrischen Feld ausgesetzt ueber dessen Frequenz oder Amplitude bzw. Richtung in Bezug auf eine optische Achse, ohne dasz sich die optischen Eigenschaften der verwendeten Substanzen selbst aendern muessen, der Kruemmungsradius der aneinandergrenzenden Substanzen und somit z. B. der Brennpunkt von Linsen oder Hohlspiegeln veraendert werden kann. Ein solches optisches Element laeszt sich bis auf wenige Mikrometer miniaturisieren. In diesem Falle liegen die Ansprechzeiten auf ein elektrisches Signal, bei Ansteuerspannungen im Bereich Millivolt bis zu wenigen Volt im Millisekundenbereich. Optische Elemente dieser Bauform koennen in Verbindung mit mikroelektronischen optischen Bauelementen eingesetzt werden.
{optisches Mikroelement; Dielektrikum, konvex, konkav; Linse; Hohlspiegel; elektrisches Feld; Brennweite} |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G02F 1/00
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