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Title |
TI |
[DE] VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DES ROTATIONSSPEKTRUMS DIELEKTRISCHER OBJEKTE |
| 71/73 |
Applicant/owner |
PA |
UNIV BERLIN HUMBOLDT, DD
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| 72 |
Inventor |
IN |
FUHR GUENTER, DD
;
GIMSA JAN, DD
;
GLASER ROLAND, DD
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| 22/96 |
Application date |
AD |
Sep 30, 1985 |
| 21 |
Application number |
AN |
28122385 |
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Country of application |
AC |
DD |
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Publication date |
PUB |
Apr 27, 1988 |
33
31
32 |
Priority data |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC main class |
ICM |
G01N 27/00
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| 51 |
IPC secondary class |
ICS |
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G01N 33/48707
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MCD main class |
MCM |
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MCD secondary class |
MCS |
G01N 33/487
(2006.01)
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MCD additional class |
MCA |
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Abstract |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren, um das Rotationsspektrum dielektrischer Koerper im rotierenden Hochfrequenzfeld schnell und EDV-gerecht zu messen. Dabei handelt es sich um die Analyse von technischen und biologischen Objekten. Mit dieser zerstoerungsfreien Methode sind Aussagen ueber die Natur und Beschaffenheit der untersuchten Koerper und ihre Oberflaechen moeglich. Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zur Messung des Rotationsspektrums dielektrischer Objekte im rotierenden Hochfrequenzfeld durch Messung des gesamten Kurvenverlaufs der Rotation als Funktion der Frequenz des applizierten elektrischen Feldes. Erfindungsgemaess wird jeder Frequenz ein Parameter, z. B. das Verhaeltnis der Einschaltzeiten von zwei Kompensationsfeldern, oder bei vorgegebenem Einschaltzeitverhaeltnis der beiden Frequenzen der Abstand zur zweiten Frequenz zugeordnet, der notwendig ist, um das Messobjekt mit einer bestimmten Winkelgeschwindigkeit (z. B. 0) zu versehen. Diese Winkelgeschwindigkeit dient als Kriterium zur Festlegung der Parameter aus denen das Rotationsspektrum ermittelt wird. |
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Cited documents identified in the search |
CT |
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Cited documents indicated by the applicant |
CT |
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Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G01N 27/00
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