| 54 |
Titel |
TI |
[DE] VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DES ROTATIONSSPEKTRUMS DIELEKTRISCHER OBJEKTE |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
UNIV BERLIN HUMBOLDT, DD
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
FUHR GUENTER, DD
;
GIMSA JAN, DD
;
GLASER ROLAND, DD
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
30.09.1985 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
28122385 |
|
Anmeldeland |
AC |
DD |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
27.04.1988 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 27/00
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 33/48707
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 33/487
(2006.01)
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren, um das Rotationsspektrum dielektrischer Koerper im rotierenden Hochfrequenzfeld schnell und EDV-gerecht zu messen. Dabei handelt es sich um die Analyse von technischen und biologischen Objekten. Mit dieser zerstoerungsfreien Methode sind Aussagen ueber die Natur und Beschaffenheit der untersuchten Koerper und ihre Oberflaechen moeglich. Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zur Messung des Rotationsspektrums dielektrischer Objekte im rotierenden Hochfrequenzfeld durch Messung des gesamten Kurvenverlaufs der Rotation als Funktion der Frequenz des applizierten elektrischen Feldes. Erfindungsgemaess wird jeder Frequenz ein Parameter, z. B. das Verhaeltnis der Einschaltzeiten von zwei Kompensationsfeldern, oder bei vorgegebenem Einschaltzeitverhaeltnis der beiden Frequenzen der Abstand zur zweiten Frequenz zugeordnet, der notwendig ist, um das Messobjekt mit einer bestimmten Winkelgeschwindigkeit (z. B. 0) zu versehen. Diese Winkelgeschwindigkeit dient als Kriterium zur Festlegung der Parameter aus denen das Rotationsspektrum ermittelt wird. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 27/00
|
