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Bibliografische Daten

Dokument CN000113167581A (Seiten: 63)

Bibliografische Daten Dokument CN000113167581A (Seiten: 63)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [EN] MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT SYSTEMS AND AUXILIARY MEASUREMENT INSTRUMENTS
71/73 Anmelder/Inhaber PA LEICA GEOSYSTEMS AG
72 Erfinder IN FAIX OLIVER ; JUSTIN MUELLER ; LAIS JOSEF ; METZLER BERNHARD ; MEYER THORSTEN ; PETKOV STEFAN ; SCHEJA JOCHEN
22/96 Anmeldedatum AD 13.12.2018
21 Anmeldenummer AN 201880100194
Anmeldeland AC CN
Veröffentlichungsdatum PUB 23.07.2021
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
EP
2018084846
20181213
51 IPC-Hauptklasse ICM G01C 11/06 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01C 15/00 (2006.01)
G06T 19/00 (2011.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01C 11/06
G01C 15/002
G01V 1/003
G01W 1/10
G06Q 10/103
G06Q 50/08
G06T 19/006
MCD-Hauptklasse MCM G01C 11/06 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01C 15/00 (2006.01)
G06T 19/00 (2011.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [EN] The invention relates to a measurement system, e.g. comprising a total station and an auxiliary measurement instrument in the form of a pole, and/or an auxiliary measurement instrument, e.g. a pole, and/or a method for determining positions in the field of geodesics or on construction sites, e.g. by means of a construction laser.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT CN000101365204A
CN000103392192A
CN000104541129A
CN000202906983U
CN000206321246U
JP002002098527A
US020100128565A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01W 1/10