G	Sektion G — Physik
	G01	Messen; Prüfen
	G01Q	Rastersondentechniken oder Vorrichtungen hierfür; Anwendung von Rastersondentechniken, z.B. Rastersondenmikroskopie [Scanning-Probe Microscopy = SPM] [2010.01]
	G01Q 10/00	Abtastanordnungen oder Positionieranordnungen, d.h. Anordnungen zur aktiven Steuerung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
	G01Q 10/02	.  Grobes Abtasten (Scannen) oder Positionieren [2010.01]
	G01Q 10/04	.  Feines Abtasten (Scannen) oder Positionieren  [2010.01]
	G01Q 10/06	. .  Schaltungen oder Algorithmen hierfür [2010.01]
	G01Q 20/00	Überwachung der Bewegung oder der Position der Sonde [2010.01]
	G01Q 20/02	.  durch optische Mittel  [2010.01]
	G01Q 20/04	.  Selbst-detektierende Sonden, d.h. die Sonde selbst erzeugt ein für ihre Position repräsentatives Signal, z.B. piezoelektrische Sensoren [2010.01]
	G01Q 30/00	Hilfsmittel zur Unterstützung oder Verbesserung von Rastersondentechniken oder Rastersondenvorrichtungen, z.B. Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
	G01Q 30/02	.  Nicht-SPM Analyseeinrichtungen, z.B. Rasterelektronenmikroskope [Scanning Electron Microscope = SEM], Spektrometer oder optische Mikroskope [2010.01]
	G01Q 30/04	.  Anzeige- oder Datenverarbeitungseinrichtungen [2010.01]
	G01Q 30/06	. .  zur Fehlerkompensation [2010.01]
	G01Q 30/08	.  Mittel zum Schaffen oder Einstellen einer gewünschten Umgebungsbedingung innerhalb einer Probenkammer [2010.01]
	G01Q 30/10	. .  thermische Umgebung  [2010.01]
	G01Q 30/12	. .  fluide Umgebung  [2010.01]
	G01Q 30/14	. . .  flüssige Umgebung [2010.01]
	G01Q 30/16	. .  Vakuumumgebung  [2010.01]
	G01Q 30/18	.  Mittel zum Schützen oder Isolieren des Inneren einer Probenkammer vor äußeren Umgebungsbedingungen oder Umgebungseinflüssen, z.B. Schwingungen oder elektromagnetischen Feldern [2010.01]
	G01Q 30/20	.  Vorrichtungen oder Verfahren für die Probenhandhabung [2010.01]
	G01Q 40/00	Kalibrierung, z.B. von Sonden [2010.01]
	G01Q 40/02	.  Kalibrierstandards und Verfahren zu deren Herstellung [2010.01]
	G01Q 60/00	Besondere Arten der Rastersondenmikroskopie [SPM] oder Vorrichtungen hierfür; wesentliche Bestandteile hiervon [2010.01]
	G01Q 60/02	.  Kombinierte SPM-Methoden, die zwei oder mehr SPM-Techniken umfassen [2010.01]
	G01Q 60/04	. .  Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM]  [2010.01]
	G01Q 60/06	. .  optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-field Optical Microscopy = SNOM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
	G01Q 60/08	. .  Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] in Kombination mit Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] [2010.01]
	G01Q 60/10	.  Rastertunnel-Mikroskopie [Scanning Tunnelling Microscopy = STM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. STM-Sonden  [2010.01]
	G01Q 60/12	. .  Rastertunnel-Spektroskopie [Scanning Tunnelling Spectroscopy = STS] [2010.01]
	G01Q 60/14	. .  Rastertunnel-Potentiometrie [Scanning Tunnelling Potentiometry = STP] [2010.01]
	G01Q 60/16	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/18	.  optische Rasternahfeldmikroskopie [Scanning Near-Field Optical Microscopy = SNOM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SNOM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/20	. .  Fluoreszenz [2010.01]
	G01Q 60/22	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/24	.  Kraftmikroskopie [Atomic Force Microscopy = AFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. AFM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/26	. .  Reibungskraft-Mikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/28	. .  Adhäsionskraft-Mikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/30	. .  Potential-Rastermikroskopie [2010.01]
	G01Q 60/32	. .  AC-Modus [2010.01]
	G01Q 60/34	. . .  Tapping-Modus  [2010.01]
	G01Q 60/36	. .  DC-Modus  [2010.01]
	G01Q 60/38	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/40	. . .  Leitfähige Sonden [2010.01]
	G01Q 60/42	. . .  Funktionalisierung  [2010.01]
	G01Q 60/44	.  Ionenleitfähigkeits-Rastermikroskopie [Scanning Ion-Conductance Microscopy = SICM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SICM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/46	.  Kapazitätsrastermikroskopie [Scanning Capacitance Microscopy = SCM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SCM-Sonden  [2010.01]
	G01Q 60/48	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/50	.  Magnetkraftmikroskopie [Magnetic Force Microscopy = MFM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. MFM-Sonden [2010.01]
	G01Q 60/52	. .  Resonanz [2010.01]
	G01Q 60/54	. .  Sonden, deren Herstellung und zugehörige Geräte, z.B. Halterungen [2010.01]
	G01Q 60/56	. . .  Sonden mit magnetischer Beschichtung  [2010.01]
	G01Q 60/58	.  thermische Rastermikroskopie [Scanning Thermal Microscopy = SThM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SThM -Sonden [2010.01]
	G01Q 60/60	.  elektrochemische Rastermikroskopie [Scanning Electro-Chemical Microscopy = SECM] und Vorrichtungen hierfür, z.B. SECM-Sonden [2010.01]
	G01Q 70/00	Allgemeine Aspekte zu SPM-Sonden, deren Herstellung und zugehörigen Geräten, sofern sie nicht besonders für eine einzelne der SPM-Techniken unter G01Q 60/00 ausgebildet sind [2010.01]
	G01Q 70/02	.  Sondenhalterungen [2010.01]
	G01Q 70/04	. .  mit Kompensation für temperatur- oder schwingungsinduzierte Fehler [2010.01]
	G01Q 70/06	.  Arrays von Sondenspitzen [2010.01]
	G01Q 70/08	.  Sondencharakteristik [2010.01]
	G01Q 70/10	. .  Form und Konizität [2010.01]
	G01Q 70/12	. . .  Nanoröhrchen-Spitzen [2010.01]
	G01Q 70/14	. .  besondere Materialien [2010.01]
	G01Q 70/16	.  Sondenherstellung [2010.01]
	G01Q 70/18	. .  Funktionalisierung [2010.01]
	G01Q 80/00	Anwendungen von anderen Rastersondentechniken als SPM  (Herstellung oder Behandlung von Mikrostrukturen B81C; Herstellung oder Behandlung von Nanostrukturen B82B 3/00; Aufzeichnen oder Wiedergabe von Information mittels Nahfeldwechselwirkung G11B 9/12, G11B 11/24 oder G11B 13/08) [2010.01]
	G01Q 90/00	Rastersondentechniken und Rastersondenvorrichtungen soweit nicht anderweitig vorgesehen [2010.01]