54 |
Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung elektronischer und/oder energieerzeugender und/oder energieumwandelnder Elemente und Komponenten |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Hirsch, Nikita, Prof. Dr. Dr. rer. nat., 73733, Esslingen, DE
;
Nöcker, Sven, 81245, München, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Hirsch, Nikita, Prof. Dr.rer.nat., 73733, Esslingen, DE
;
Tarasov, Boris, Prof. Dr.rer.nat, Ekaterinburg, RU
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
22.04.2010 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102010017844 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
27.10.2011 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H01L 51/56
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B01J 19/08
(2006.01)
H01L 21/26
(2006.01)
H01L 31/18
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
H01L 31/03928
H10K 71/00
H10K 71/16
H10K 71/18
Y02E 10/541
Y02E 10/549
Y02P 70/50
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
H01L 51/56
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B01J 19/08
(2006.01)
H01L 21/26
(2006.01)
H01L 31/18
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Ein Verfahren zur Herstellung eines elektronischen und/oder energieerzeugenden und/oder energieumwandelnden Elementes ist durch die Aktivierung und/oder Mobilisierung und/oder Steuerung quantummechanischer und/oder quantumchemischer Effekte und Kräfte und/oder deren beliebige Kombinationen aufgrund Anwendung bestimmter Energieeinflüsse bestimmt. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
DE102008035559A1 US020070241470A1 US020100087695A1 WO002006102292A2
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
US020090046362A1 WO002008124180A1
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
MLADLENOV,G.,et.al.:Some Perspective Aspects of Nanotechnology Development.In:TCSET'2010,Feb.23-27,Lviv-Slavske,Ukraine.S.368, 369 p 0
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B01J 19/08
H01L 51/56
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