Bibliografische Daten

Dokument EP000000975705B1 (Seiten: 8)

Bibliografische Daten Dokument EP000000975705B1 (Seiten: 8)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] PUFFERLÖSUNGEN FÜR SUSPENSIONEN, VERWENDBAR ZUM CHEMISCH-MECHANISCHEN POLIEREN
[EN] BUFFER SOLUTIONS FOR SUSPENSIONS USED IN CHEMICAL-MECHANICAL POLISHING
[FR] SOLUTIONS TAMPONS POUR SUSPENSIONS S'UTILISANT POUR LE POLISSAGE CHIMICO-MECANIQUE
71/73 Anmelder/Inhaber PA MERCK PATENT GMBH, DE
72 Erfinder IN DUSEMUND CLAUS, DE ; HOSTALEK MARTIN, DE ; RHEIN RUDOLF, DE ; SCHWEIKERT MANUELA, DE
22/96 Anmeldedatum AD 15.04.1998
21 Anmeldenummer AN 98919271
Anmeldeland AC EP
Veröffentlichungsdatum PUB 13.03.2002
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
19715975
17.04.1997
33
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32
PRC
PRN
PRD
EP
9802209
15.04.1998
51 IPC-Hauptklasse ICM C09G 1/02
51 IPC-Nebenklasse ICS H01L 21/321
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC C09G 1/02
C09K 3/1463
C23F 3/00
H01L 21/30625
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS C09G 1/02 (2006.01)
C09K 3/14 (2006.01)
C23F 3/00 (2006.01)
H01L 21/304 (2006.01)
H01L 21/306 (2006.01)
H01L 21/321 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [EN] The present invention relates to buffer systems in the form of solutions or salts for preparing suspensions which can be used for chemomechanical polishing. In particular, these buffer systems can be used for preparing suspensions having a high pH of 9.5-13 which are used for the chemomechanical polishing of Si and metal surfaces of semiconductors, known as wafers.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP C09G 1/00