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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur optischen Rasternahfeldmikroskopie an Probekörpern in Flüssigkeiten
[EN] Device and method for scanning near field optical microscopy of samples in fluids
[FR] Procédé et appareil de microscopie à balayage optique en champs proche d'échantillons contenus dans un liquide |
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Anmelder/Inhaber |
PA |
HUELS CHEMISCHE WERKE AG, DE
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Erfinder |
IN |
KIRSTEIN STEFAN DR, DE
;
LOHR FRAUKE, DE
;
MERTESDORF MICHAEL, DE
;
SCHOENHOFF MONIKA DR, SE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.12.1996 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
96120871 |
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Anmeldeland |
AC |
EP |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
04.02.1998 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
19631498
19960803
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02B 21/00
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 20/00
B82Y 35/00
G01Q 10/06
G01Q 20/02
G01Q 30/14
G01Q 60/20
G01Q 60/22
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 37/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 21/64
(2006.01)
G01Q 10/06
(2010.01)
G01Q 20/02
(2010.01)
G01Q 30/14
(2010.01)
G01Q 60/18
(2010.01)
G01Q 60/20
(2010.01)
G02B 21/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Herkömmliche Methoden zur Rasternahfeldmikroskopie an Probekörpern in Flüssigkeit setzen das Vorhandensein einer ausreichend glatten, reflektierenden Probenoberfläche zur Detektion der Schwingungsbewegung der Lichtleitfaserspitze und damit zur Abstandsregelung zwischen Spitze und Oberfläche voraus. Durch das erfindungsgemäße Verfahren, bei dem die Schwingungsbewegung vorzugsweise mit Hilfe eines weitgehend parallel zur Probenoberfläche verlaufenden Lichtstrahls ohne Reflexion an der Probenoberfläche detektiert wird, können beliebige Proben in nahezu jeder Flüssigkeit untersucht werden. Untersuchen von durch die Flüssigkeit an der Probenoberfläche hervorgerufenen Veränderungen. <IMAGE>
[EN] The microscopy method involves using a laterally oscillating optical fibre point immersed in the sample fluid, with regulation of its distance from the sample surface by detection of the oscillation movement. The latter movement is detected via a light beam directed parallel to the sample surface without reflection, with evaluation of the refraction image of the light beam provided by a light detector, e.g. a photodiode (5). |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
EP000000545538A1
EP000000701102A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
US000005479024A
US000005485536A
WO001995015480A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
COLLINS G J: "NEAR-FIELD MICROSCOPY MOVES INTO THE MAINSTREAM", LASER FOCUS WORLD, vol. 31, no. 11, 1 November 1995 (1995-11-01), pages 104 - 107, XP000543775 0;
MOYER P J ET AL: "HIGH-RESOLUTION IMAGING USING NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY AND SHEAR FORCE FEEDBACK IN WATER", APPLIED PHYSICS LETTERS, vol. 68, no. 24, 10 June 1996 (1996-06-10), pages 3380 - 3382, XP000599544 0;
WESTON K D ET AL: "NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY IN REFLECTION: A STUDY OF FAR-FIELD COLLECTION GEOMETRY EFFECTS", REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, vol. 67, no. 8, August 1996 (1996-08-01), pages 2924 - 2929, XP000620463 0
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
E. BETZIG ET AL., APPL. PHYS. LETT., vol. 60, no. 20, 1992, pages 2484 - 2486 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 21/17
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