54 |
Titel |
TI |
[DE] Halbleiterbauelement mit gleichrichtenden Übergängen sowie Herstellungsverfahren zur Herstellung desselben |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Infineon Technologies AG, 81669 München, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Rupp, Roland, Dr., 91207 Lauf, DE
;
Rüb, Michael, Dr., Faak am See, AT
;
Treu, Michael, Dr., Villach, AT
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
26.02.2007 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102007009227 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
28.08.2008 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H01L 29/872
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
H01L 29/0619
H01L 29/08
H01L 29/6606
H01L 29/6609
H01L 29/66143
H01L 29/861
H01L 29/872
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
H01L 29/872
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein Halbleiterbauelement vorgeschlagen, das einen Halbleiterkörper mit einem ersten Halbleitergebiet (11) vom ersten Leitungstyp, mindestens einen ersten gleichrichtenden Übergang (1) zum ersten Halbleitergebiet (11), mindestens einen zweiten gleichrichtenden Übergang (2) zum ersten Halbleitergebiet (11) und mindestens einen dritten gleichrichtenden Übergang (3) zum ersten Halbleitergebiet (11) aufweist, wobei die drei gleichrichtenden Übergänge (1, 2, 3) jeweils eine unterschiedlich hohe Barrierenhöhe aufweisen. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
US020040046224A1 WO002006061277A1
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
DE000019954866A1 US000005262668A US000006362495B1 US000006905916B2 US020040046244A1
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
Hancock, J.M.: Novel SiC Diode Solves PFC Challenges. In: Power Electronics Technology, Juni 2006, S. 28-35 n
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
Jon Mark Hancock, Power Electronics Technology, Juni 2006, S. 28-35 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
H01L 21/28 SIC
H01L 27/06
H01L 29/872
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