Hauptinhalt

Bibliografische Daten

Dokument DE102005047056B3 (Seiten: 32)

Bibliografische Daten Dokument DE102005047056B3 (Seiten: 32)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Leistungshalbleiterbauelement mit einer Feldelektrodenstruktur und Verfahren zur Herstellung einer Feldelektrodenstruktur
[EN] Power semiconductor element and production process has field electrode structure with at least two first field electrodes and a second field electrode in a second direction with dielectric separation between them
71/73 Anmelder/Inhaber PA Infineon Technologies AG, 81669 München, DE
72 Erfinder IN Hirler, Franz, Dr., 84424 Isen, DE ; Rüb, Michael, Dr., Faak am See, AT
22/96 Anmeldedatum AD 30.09.2005
21 Anmeldenummer AN 102005047056
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 18.01.2007
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM H01L 29/06 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS H01L 21/329 (2006.01)
H01L 21/336 (2006.01)
H01L 29/78 (2006.01)
H01L 29/861 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC H01L 29/0634
H01L 29/1095
H01L 29/404
H01L 29/407
H01L 29/41766
H01L 29/66734
H01L 29/7802
H01L 29/7813
H01L 29/861
H01L 29/872
MCD-Hauptklasse MCM H01L 29/06 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS H01L 21/329 (2006.01)
H01L 21/336 (2006.01)
H01L 29/78 (2006.01)
H01L 29/861 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Leistungshalbleiterbauelement mit einer Feldelektrodenstruktur und Verfahren zur Herstellung einer Feldelektrodenstruktur. Das Leistungshalbleiterbauelement umfasst: DOLLAR A einen Halbleiterkörper (100) mit einer Driftzone (11) und einem Übergang (16) zwischen der Driftzone (11) und einer weiteren Bauelementzone (12; 72), die derart ausgestaltet ist, dass sich bei Anlegen einer Sperrspannung an den Übergang (16) eine Raumladungszone in einer ersten Richtung in der Driftzone (12) ausbildet, DOLLAR A eine Feldelektrodenstruktur (40), die in einer zweiten Richtung benachbart zu der Driftzone (11) angeordnet ist und die in dieser zweiten Richtung wenigstens abschnittsweise mittels einer ersten Dielektrikumsschicht (33) isoliert gegenüber der Driftzone (11) angeordnet ist, und die aufweist: DOLLAR A wenigstens zwei erste Feldelektroden (41), die in der ersten Richtung benachbart zueinander angeordnet sind, die durch wenigstens eine Dielektrikumsschicht (61) gegeneinander isoliert sind und die durch die erste Dielektrikumsschicht (33) von der Driftzone (11) getrennt sind, DOLLAR A wenigstens eine zweite Feldelektrode (42), die in der zweiten Richtung benachbart zu den wenigstens zwei ersten Feldelektroden (41) angeordnet ist, wobei die zweite Feldelektrode (42) in der ersten Richtung die wenigstens zwei ersten Feldelektroden (41) überlappt und mittels einer Dielektrikumsschicht (62) gegenüber den ersten Feldelektroden (41) isoliert ist.
[EN] A power semiconductor element comprises a semiconductor body (100) with a drift zone (11) and a transition (16) from this to a further component zone (12) that forms a space charge on applying a blocking voltage. There is a field electrode structure (40) comprising at least two adjacent first field electrodes (41) in a second direction isolated and separated from the drift zone and from one another by a dielectric (33,61) and at least one second field electrode (42) in a second direction neighboring and overlapping the first and isolated from it. Independent claims are also included for the following: (A) Production processes for a field electrode structure;and (B) A production process for a structured layer.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE000010339455B3
DE000010339488B3
DE102004007197A1
US000004903189A
US000004941026A
US000006555873B2
US000006677641B2
US000006717230B2
US000006853033B2
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP H01L 21/329
H01L 21/336
H01L 29/06 E
H01L 29/861