| 54 |
Titel |
TI |
[DE] Leistungstransistor |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Infineon Technologies AG, 81669 München, DE
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
Rüb, Michael, Dr. rer. nat., Faak am See, AT
;
Schmidt, Gerhard, Dr. rer. nat., Wernberg, AT
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
28.09.2005 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102005046427 |
|
Anmeldeland |
AC |
DE |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
05.04.2007 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H01L 29/772
(2006.01)
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 10/00
H10D 30/43
H10D 30/63
H10D 62/111
H10D 62/118
H10D 62/121
H10D 62/122
H10D 64/661
H10D 64/671
H10D 84/811
H10K 10/466
H10K 85/225
Y10S 977/938
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
H01L 29/772
(2006.01)
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Ein Leistungstransistor (30, 50) weist einen Sourcebereich (31), einen Drainbereich (32), einen Halbleiterkörper (33), der zwischen dem Sourcebereich (31) und dem Drainbereich (32) angeordnet ist, sowie mehrere parallel geschaltete Nanotubes (34), die den Halbleiterkörper (33) durchsetzen, gegenüber diesem elektrisch isoliert sind und den Sourcebereich (31) mit dem Drainbereich (32) elektrisch verbinden, auf. In dem Halbleiterkörper (33) sind eine oder mehrere Dioden (35) ausgebildet, die so ausgestaltet sind, dass entsprechende Potenzialverläufe, die im Dioden-Sperrfall innerhalb der Dioden (35) auftreten, als Gatepotenziale zum Schalten des Leistungstransistors (30, 50) dienen. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010324752A1
DE102004003374A1
US000006891191B2
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
H01L 29/772
H01L 29/78
|
