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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur optischen Rasternahfeldmikroskopie an Probekörpern in Flüssigkeiten |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Hüls AG, 45772 Marl, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kirstein, Stefan, Dr., 12437 Berlin, DE
;
Lohr, Frauke, 45772 Marl, DE
;
Mertesdorf, Michael, 10138 Berlin, DE
;
Schönhoff, Monika, Dr., Lund, SE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
03.08.1996 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
19631498 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
05.02.1998 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02B 21/00
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 21/17
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 20/00
B82Y 35/00
G01Q 10/06
G01Q 20/02
G01Q 30/14
G01Q 60/20
G01Q 60/22
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 37/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 21/64
(2006.01)
G01Q 10/06
(2010.01)
G01Q 20/02
(2010.01)
G01Q 30/14
(2010.01)
G01Q 60/18
(2010.01)
G01Q 60/20
(2010.01)
G02B 21/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Herkömmliche Methoden zur Rasternahfeldmikroskopie an Probekörpern in Flüssigkeit setzen das Vorhandensein einer ausreichend glatten, reflektierenden Probenoberfläche zur Detektion der Schwingungsbewegung der Lichtleitfaserspitze und damit zur Abstandsregelung zwischen Spitze und Oberfläche voraus.$A Durch das erfindungsgemäße Verfahren, bei dem die Schwingungsbewegung vorzugsweise mit Hilfe eines weitgehend parallel zur Probenoberfläche verlaufenden Lichtstrahls ohne Reflexion an der Probenoberfläche detektiert wird, können beliebige Proben in nahezu jeder Flüssigkeit untersucht werden.$A Untersuchen von durch die Flüssigkeit an der Probenoberfläche hervorgerufenen Veränderungen. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 21/17
G02B 21/00
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