Hauptinhalt

Bibliografische Daten

Dokument DE000010239312B4 (Seiten: 15)

Bibliografische Daten Dokument DE000010239312B4 (Seiten: 15)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements mit einer Driftzone und einer Feldstoppzone und Halbleiterbauelement mit einer Driftzone und einer Feldstoppzone
71/73 Anmelder/Inhaber PA Infineon Technologies AG, 81669 München, DE
72 Erfinder IN Rüb, Michael, Dr., Faak a. See, AT ; Strack, Helmut, Dr., 80804 München, DE
22/96 Anmeldedatum AD 27.08.2002
21 Anmeldenummer AN 10239312
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 17.08.2006
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM H01L 21/331 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS H01L 21/336 (2006.01)
H01L 29/739 (2006.01)
H01L 29/78 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC H01L 21/26513
H01L 21/266
H01L 29/0834
H01L 29/66333
H01L 29/7395
H01L 29/861
MCD-Hauptklasse MCM H01L 21/331 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS H01L 21/265 (2006.01)
H01L 21/266 (2006.01)
H01L 21/336 (2006.01)
H01L 29/08 (2006.01)
H01L 29/739 (2006.01)
H01L 29/78 (2006.01)
H01L 29/861 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE000010000754A1
DE000019731495C2
US000005648283A
US000006100169A
WO002001020656A2
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP H01L 21/336
H01L 29/78